基本技术参数

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C4膜厚检测仪简介

东莞威哲精密仪器有限公司推出的膜厚检测仪，专用于线束端子、连接器、接插件、五金件、电子元器件及线缆表面的金属镀层、涂层、绝缘层厚度检测。设备可选配X射线荧光、涡流、磁性或光学等测量原理，采用高精度传感器与智能分析软件，支持非接触/无损测量、多点自动测量、厚度分布分析、上下限判定、超差报警、数据存储、报表导出及MES对接。适用于汽车线束、新能源连接器、消费电子、通信设备、家电及实验室研发等场景，可对金、银、锡、镍、铜、锌等镀层及各类涂层进行快速、精准的厚度评估，满足来料检验、产线抽检与精密质控需求。

膜厚仪优势

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm²。

2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）。

4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测。

5）装配Si-Pin半导体探测器，分辨率高，测试速度快，数据稳定。

6）涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）。

7）成分分析范围：硫S(16)- 铀U（92）。

8）RoHS、卤素有害元素检测。

9）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作。

10）标配4准直器自动切换。

11）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%。

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